Методы структурного анализа и контроль качества изделий

Main
Методы структурного анализа и контроль...

Методы структурного анализа и контроль качества изделий

Коллектив авторов

0 / 0

როგორ მოგეწონათ ეს წიგნი?

როგორი ხარისხისაა ეს ფაილი?

ჩატვირთეთ, ხარისხის შესაფასებლად

როგორი ხარისხისაა ჩატვირთული ფაილი?

გამომცემლობა:

Сибирский федеральный университет

ენა:

russian

გვერდები:

247

ფაილი:

PDF, 11.11 MB

IPFS:

,

russian0

ონლაინ წაკითხვა

ჩატვირთვა (pdf, 11.11 MB)

ხორციელდება კონვერტაციის -ში

კონვერტაციის -ში ვერ მოხერხდა

შესაძლოა დაგაინტერესოთ

Папко, Людмила Федоровна — Физико-химические методы исследования неорганических веществ и материалов

Бычков Петр Степанович, — Физико-химические методы исследования. Методические указания к лабораторным работам : учебно-методическое пособие

Авксентьев Ю.И. и др. — Физика твердого тела. Структура твердого тела и магнитные явления. Спецпрактикум.

Э.В. Суворов — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов : учеб. пособие.

Э.В. Суворов — Методы исследования реальной структуры и состава материалов: Учебно- методический комплекс дисциплины.

Суворов Э. В. — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов: учеб. пособие

Суворов Э. В. — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов: учеб. пособие

Кацнельсон А. А. — Физика твердого тела. Спецпрактикум. Структура твердого тела и магнитные явления

Русаков А.А. — Рентгенография металлов

Уманский Я. С., Скаков Ю. А., Иванов А. Н., Расторгуев Л. Н. — Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

Кацнельсон А.А., Кринчик Г.С. — Физика твердого тела. Структура твердого тела и магнитные явления. Спецпрактикум

Амелкинс С. — Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении.

Вангенгейм С.Д. — Видимое невидимое.

Уманский Я.С. — Рентгенография металлов

П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан — Электронная микроскопия тонких кристаллов

Батулин Р.Г. и др. — Проведение синхротронных и нейтронных исследований.

С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев — Рентгенографический и электроннооптический анализ

Тейлор А. — Рентгеновская металлография

Пинес Б.Я. — Лекции по структурному анализу

Бублик В.Т., Дубровина А.Н. — Сборник задач и упражнений по курсу ’’Методы исследования структуры

Гласкер Дж., Трублад К. — Анализ кристаллической структуры

Батаев А.А., Батаев В.А. и др. — Физические методы контроля качества материалов

Горбунов В.А., Селезнева Н.В., Губкин А.Ф. — Рентгеновские и нейтронные методы исследования наноматериалов

Плясова Л.М. — Введение в рентгенографию катализаторов

Биркс Л.С. — Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда

Заболеев-Зотов В.В. — Современные способы исследования металлов

Каули Дж. (J.M.Cowley) — Физика дифракции

Каули Дж. — Физика дифракции

Мищенко, О — Основы физического металловедения : методические указания к лабораторным работам №1–4

Гинье А.(Guinier A.) — Рентгенография кристаллов: Теория и практика

Лидер В.В. — Фазочувствительные рентгеновские методы характеризации конденсированных сред: Учебное пособие

Уманский Я.С. — Рентгенография металлов и полупроводников.

Трушин В.Н., Андреев П.В., Фаддеев М.А. — Рентгеновский фазовый анализ поликристаллических материалов

Уманский Я.С и др. — Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

Боуэн Д.К., Таннер Б.К.(Bowen,Tanner) — Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография

საკვანძო ფრაზები

поверхности

контроля

электронов

излучения

дефектов

плоскости

материалов

позволяет

рассеяния

интенсивности

структуры

контроль

изображения

определяется

симметрии

образцов

рентгеновских

элементов

зависимости

изображение

материала

вторичных

излучение

интенсивность

электроны